ICP-MS/MS直接测定高纯Eu_2O_3中超痕量的铥、砷、硅

徐芝亮; 吴海燕; 张智怡; 刘永林; 《中国稀土学报 》 2016 北大核心 CSCD

摘要：运用三重串联电感耦合等离子质谱(ICP-MS/MS)仪直接测定高纯Eu_2O_3中超痕量的Tm,As和Si。采用H_2的原位质量法和O_2质量转移法,有效克服了基体对待测元素的干扰。通过优化仪器参数得到Tm,As和Si的背景等效浓度分别为0.0005763,0.08435,8.268μg·L~(-1)。在选定条件下,样品加标回收率为95.74%~103.82%,相对标准偏差(RSD)为0.22%~4.38%。本方法简单实用,能够满足纯度99.999%以上的高纯Eu_2O_3中杂质元素的快速测定。

关键词： 三重串联电感耦合等离子质谱(ICP-MS/MS) 高纯Eu_2O_3 铥、砷、硅 干扰